ブリルアン利得スペクトル形状の放物線ひずみ分布依存性
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概要
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OTDR(Optical Time Domain reflectometer)タイプのひずみ計測システムを用いる場合に、長さ方向に放物線形状で変化するひずみ分布をもつ光ファイバから生じる、ブリルアン利得スペクトルの形状を理論的に求めている。この放物線ひずみ分布は、等分布荷重が作用している梁に生じ、線形ひずみ分布とならぶ基本的なひずみ分布である。求められた結果に基づいて、計測条件である入射パルス幅と梁上での計測位置、ひずみ分布のパラメータである放物線の2次の係数が、スペクトルの形状変化に与える影響について調べている。また、実際に梁に生じるひずみと計測システムより得られるひずみの関係について、数値的に調べている。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-11-22
著者
-
成瀬 央
Nttアクセスサービスシステム研究所
-
成瀬 央
日本電信電話(株)アクセスサービスシステム研究所
-
島田 明佳
東大院
-
立田 光廣
千葉大学工学部
-
立田 光廣
千葉大学
-
大野 博重
NTTアクセスサービスシステム研究所
-
島田 明佳
NTTアクセス網研究所
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