同位体希釈/誘導結合プラズマ質量分析法による金属イオン濃度測定の国際比較
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概要
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物質量諮問委員会(CCQM)は, 化学計測の国際的整合性を確立するために, 同位体希釈質量分析法(ID/MS)を参照法とした誘導結合プラズマ質量分析法(ID/ICP-MS), 又は表面電離質量分析法による金属イオン濃度測定に関する国際比較試験を開始し, 世界各国の国立研究機関がこれに参加した. CCQMは各国の分析値が参照値に対して±1%以内に収まることを目標としたが, 6種類の金属イオンの分析が行われた第1回比較試験では, 各国の分析値は参照値に対して大きくばらついた. ID/MSに関する分析手順書が用意された水溶液中のPbイオン濃度分析に関する第2回比較試験では, CCQMの目標はほぼ達成された. ID/ICP-MSで高精確分析を行うためには, 同位体比補正係数の時間変動に対する校正や, 試料と濃縮同位体の混合比の最適化を行う必要のあることが分かった.
- 社団法人日本分析化学会の論文
- 1998-04-05
著者
-
久保田 正明
工業技術院化学技術研究所
-
久保田 正明
独立行政法人産業技術総合研究所
-
倉橋 正保
独立行政法人産業技術総合研究所計測標準研究部門無機分析科無機標準研究室
-
倉橋 正保
工業技術院化学技術研究所
-
日置 昭治
工業技術院物質工学工業技術研究所
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久保田 正明
産業技術総合研
-
野々瀬 菜穂子
工業技術院物質工学工業技術研究所
-
日置 昭治
(独)産業技術総合研究所計測標準研究部門無機分析科
-
野々瀬 菜穂子
慶應義塾大学:(現)工業技術院物質工学工業技術研究所
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