対象モデルによる論理回路の故障診断システム

概要

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パーソナルコンピュータ等のデジタル技術の進歩により,論理回路の構成が複雑化,大規模化されてきた。それにともない論理回路の故障診断,検査が重要視されるようになってきた。診断,検査の方法としてはテストパターンを用いて故障箇所を同定するやり方がとられる。しかし,100%の故障検出率を保証するテストパターンを設計者が生成することはもはや不可能である。近年,知識ベースシステムを構築することによって故障診断を行うシステムが盛んに研究,開発されてきた。それらの多くは経験的な知識に基づいて知識ベースが構築されている。しかし,このようなシステムの限界が指摘されている。そこで,対象そのものに関するモデルを用いた方法が提案されている。我々も,対象モデルを用いたモデルベース推論の方法を提案し,幾つかの実験システムを試作してきた。本稿では,すでに提案している対象モデルの概念を用いたLogic leveIとCircuitlevelに適用可能なモデルとそれを用いた故障診断システムについて述べる。
一般社団法人情報処理学会の論文
1991-02-25