Sb照射下で成長させたMnSi/Si薄膜のTEMによる評価 : 気相成長I
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概要
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MnSi/Si thin films grown in the presence of an Sb flux were charactarized by transmission electron microscopy (TEM). The observation revealed that a high quality epitaxial thin films with smooth interface between MnSi and Si (111) substrate was obtained.
- 日本結晶成長学会の論文
- 1998-07-01
著者
-
立岡 浩一
静岡大学大学院電子科学研究科:静岡大学工学部
-
立岡 浩一
静岡大学工学部
-
桑原 弘
静岡大学大学院電子科学研究科:静岡大学工学部
-
立岡 浩一
静大工
-
桑原 弘
静大工
-
松田 孝司
静大工
-
松永 和晴
静大工
-
伊左次 晃司
静大工
-
Brown P
ケンブリッジ大
-
Xin Y
ケンブリッジ大
-
Humphreys C
ケンブリッジ大
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