3a-C4-7 Impurity effects of the SiO_2-Si(100)interface studied by Angle-Resolved UPS
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1988-09-16
著者
-
窪田 政一
東大物性研
-
村田 好正
物性研
-
窪田 政一
物性研
-
Heimlich C.V.
物性研
-
服部 健雄
武蔵工大工
-
森田 瑞穂
東北大工
-
大見 忠弘
東北大工
-
森田 瑞穂
大阪大学大学院工学研究科
-
森田 瑞穂
大阪大学大学院工学研究科精密科学・応用物理学専攻
-
服部 健雄
東北大学未来科学技術共同研究センター
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