MOMBEによるZnSeのプリ・クラッキング・フリー成長
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概要
著者
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末宗 幾夫
北海道大学電子科学研究所
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末宗 幾夫
北海道大学電子科学研究所:jst Crest
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沼居 貴陽
北海道大学電子科学研究所
-
Numai T
Canon Res. Center Kanagawa Jpn
-
末宗 幾夫
北海道大学 電子科学研究所
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