透過型電子顕微鏡の組成分析への超伝導遷移端センサの応用
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概要
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- 2012-02-10
著者
-
田中 啓一
SIIナノテク
-
田中 啓一
エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)
-
原 徹
National Institute For Material Science
-
原 徹
物質・材料研究機構
-
満田 和久
宇宙航空研究開発機構
-
満田 和久
Jaxa
-
前畑 京介
九州大学大学院工学研究院
-
満田 和久
ISAS/JAXA
-
田中 啓一
(株)エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社研究開発部
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