TEM用マイクロカロリメータ型EDSの開発と応用の可能性 (分析技術の進展--ハードの最前線)
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概要
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- 日本顕微鏡学会分析電子顕微鏡分科会の論文
- 2009-09-01
著者
-
田中 啓一
SIIナノテク
-
原 徹
National Institute For Material Science
-
前畑 京介
九州大学大学院工学研究院
-
原 徹
物質・材料研究機構 ナノ計測センター
-
田中 啓一
(株)エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社研究開発部
-
田中 啓一
Siiナノテクノロジー
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