サブマイクロメータ領域の構造と光情報を測定するための近接場光学顕微鏡の開発と評価
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概要
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- 2011-08-03
著者
-
井上 光輝
豊橋技術科学大学
-
内田 裕久
東北工業大学
-
井上 光輝
豊橋技術科学大学電気・電子情報工学系
-
松浦 真樹
(株)アルファプロジェクト
-
堀内 博之
(株)アルファプロジェクト
-
佐竹 義彦
東北工業大学
-
片山 博司
(株)片山電子
-
坂上 辰夫
(株)片山電子
-
鈴木 康哲
(株)アルファプロジェクト
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