電子線ホログラフィーによる結晶内部電位の測定
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概要
著者
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平山 司
(財)ファインセラミックスセンター材料技術研究所研究第一部
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平山 司
(財)ファインセラミックスセンターナノ構造研究所 ナノスコピー・シュミレーション部
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平山 司
(財)ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
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