電磁浮遊法を用いた液体シリコンの分光放射率測定とその温度依存性
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概要
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- 2003-09-01
著者
-
渡邉 匡人
学習院大学理学部
-
日比谷 孟俊
ウィーン工科大学熱流体力学研究所
-
河村 啓史
東京工業大学大学院理工学研究科
-
福山 博之
東京工業大学大学院理工学研究科
-
日比谷 孟俊
東京都立科学技術大学工学部
-
日比谷 孟俊
首都大学東京
-
日比谷 孟俊
東京都立科学技術大学
-
渡邉 匡人
学習院大学理学部物理学科
-
福山 博之
東北大
-
福山 博之
東京工業大学 大学院工学研究科
-
渡邉 匡人
学習院大学 理学部
-
河村 啓史
東工大院
-
渡邉 匡人
学習院大学
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