High-resolution transmission electron microscopy observation of the cross-sectional structure of reconstructed silicon (5,5,12) surface
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概要
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- Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Pressの論文
- 2001-11-13
著者
-
安田 秀幸
大阪大学大学院工学研究科
-
Takeguchi Masaki
High Voltage Electron Microscopy Station National Institute For Materials Science
-
FURUYA Kazuo
National Research Institute for Metals
-
Furuya Kazuo
National Institute For Materials Science
-
Furuya Kazuo
High Voltage Electron Microscopy Station National Institute For Materials Science
-
Tanaka Miyoko
National Institute For Materials Science
-
YASUDA Hidehiro
National Institute for Materials Science
-
TAKEGUCHI Masaki
Advanced Nano-characterization Center, National Institute for Materials Science
-
Takeguchi M
National Institute For Materials Science
-
TAKEGUCHI Masaki
National Institute for Materials Science
-
LIU Junliang
National Research Institute for Metals
-
Furuya K
National Institute For Materials Science
-
Tanaka Miyoko
High Voltage Electron Microscopy Station National Institute For Materials Science
-
Takeguchi Masaki
Department Of Applied Physics Faculty Of Engineering Osaka University
-
Takeguchi Masaki
National Institute for Material Science, 3-13 Sakura, Tsukuba 305-0003, Japan
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