YBCO/CeO_2/Al_2O_3薄膜のエピ成長機構とAFM観察
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概要
著者
-
山根 久典
東北大学 学際科学国際高等研究センター
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中村 嘉孝
山形大学電子工学科
-
河野 仁
山形大学電子工学科
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大嶋 重利
山形大学電子工学科
-
奥山 克郎
山形大学電子工学科
-
明連 広昭
東北大学
-
山下 努
東北大学電気通信研究所
-
平井 敏雄
東北大学
-
奥山 克郎
山形大学工学部電気電子工学科
-
明連 広昭
東北大通研
-
明連 広昭
埼玉大
-
山根 久典
Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials Tohoku University
-
山下 努
弘前大 理工
-
Yamane H
Tohoku Univ. Sendai Jpn
-
Okuyama Katsuro
Department Of Electrical And Information Engineering Faculty Of Engineering Yamagata University
-
Okuyama Katsuro
Department Of Electrical And Information Engineering Yamagata University
-
山下 努
東北大学電気通信建研究所
-
山根 久典
東北大学 多元物質科学研究所
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