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株式会社ルネサステクノロジ | 論文
- 90nmテクノロジーノードによる銅配線形状の非破壊インバース・モデリング(プロセス・デバイス・回路・シミュレーション及び一般)
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- 3次元配線容量シミュレーションに基づいたサブ100mm世代eSRAMのスケーリングの検討(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
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- 組み込みプロセッサコアSH-X2の開発(プロセッサ, DSP, 画像処理技術及び一般)
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- 167MHz 0.4W 1.2GFLOPSプロセッサ向け浮動小数点演算ユニットの開発
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- デターミニスティックBISTによる高効率高品質テストの実現
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- 近傍パターン群発生によるデターミニスティックBIST方式
- 誘導結合通信を用いた低消費電力・高性能三次元プロセッサの開発 : 90nm CMOSマルチコアプロセッサと65nm CMOS SRAMの三次元システム集積(若手研究会)
- 統計的ばらつき予測のための回路モデルパラメータ生成システムの構築
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- 多種クロックをもつ論理回路の決定性組込みテスト
- 市場不良率と総合検出率の関係に関する考察
- 多種クロックをもつ論理回路の組込みテスト
- International Test Conference 1999 (ITC '99)
- BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバヘッドの低減 (テストと設計検証論文特集)