丸山 瑛一 | 日立

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• 斉藤 一敏

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• 松井 誠

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• 後藤 直宏

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• 松井 誠

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• 江藤 良純

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• 中川 清和

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• 橋本 通晰

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• 小池 紀雄

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• 中野 寿夫

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• 酒井 英之

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• 後藤 直宏

  NHK

• 滝川 徹

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• 野中 育光

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  NHK

• 竹本 一八男

  日立 ディスプレイグループ

• 秋山 俊之

  日立製作所・中央研究所

• 丸山 瑛一

  日立製作所中央研究所

• 宇田 毅

  日立中研

• 松丸 治男

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• 後藤 直宏

  Nhk総合技術研究所

• 山田 栄三郎

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• 草野 忠四郎

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  NHK技研

• 丸山 瑛一

  (株)日立製作所 研究開発推進本部

• 小池 紀雄

  (株)日立製作所中央研究所

• 松井 誠

  (株)日立製作所中央研究所

• 白木 靖寛

  (株)日立製作所中央研究所

• 片山 良史

  (株)日立製作所中央研究所

• 小林 啓介

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  (株)日立製作所中央研究所

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• 秋山 俊之

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• 中野 寿夫

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  (株)日立製作所

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著作論文

• 5)新型撮像管サチコン(テレビジョン電子装置研究会(第62回))
• 4)新型撮像管"サチコン"の特性について(第45回 テレビジョン電子装置研究会)
• 3a-G-1 CdSのShallow Trap
• 電流飽和領域における空間電荷制限電流 : 半導体 : ダイオード,不安定
• Phononのdamping : 半導体 : ダイオード,不安定
• CdSにおけるphononのdecay : 半導体(ダイオード)
• 19)サチコン光導電膜を用いた一次元センサ(テレビジョン電子装置研究会(第70回)画像表示研究会(第27回))
• 3-11 非晶質カルコゲナイド系撮像管サチコンの動作解析
• 非晶質Se-As-Te薄膜ヘテロ接合
• 16p-A-3 非晶質半導体の接合特性
• Se系化合物ヘテロ接合の光電特性 II : イオン結晶・光物性
• Se系化合物ヘテロ接合の光電特性 I : イオン結晶・光物性
• 12p-D-14 アモルファスシリコン膜の振動スペクトル
• 27a-SB-6 混相系アモルファスシリコン膜の振動スペクトル
• 3)カルコゲナイド非晶質膜を用いた固体撮像素子(テレビジョン電子装置研究会(第88回))
• 3)非晶質薄膜を用いた密着読取り一次元センサ(テレビジョン電子装置研究会(第83回))
• ガラス基板上の多結晶シリコン薄膜トランジスタ
• 1)poly-Si TFTを用いた液晶スイッチマトリクスアレイ(画像表示研究会(第75回))
• 1)固体撮像素子用カラーフィルタ(テレビジョン電子装置研究会(第83回))
• 1)アモルファス半導体の入出力デバイスへの応用(〔情報入力研究会情報ディスプイ研究会〕合同)
• 基礎研究に「目的」は必要か--サイエンスへの貢献と文化のこころ (90年代の科学技術政策--基礎研究と国際化)
• アモルファス半導体の微量不純物効果
• S-3 アモルファス撮像デバイスの将来展望
• 4p-H-10 コメント : 非晶質半導体接合について
• CdSの電気分解に伴うルミネセンス : 光物性

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