丸山 瑛一 | 日立中研
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概要
関連著者
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丸山 瑛一
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(株)日立製作所 中央研究所
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後藤 直宏
(株)日立製作所電子デバイス事業部
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山田 栄三郎
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後藤 直宏
NHK技研
著作論文
- 3a-G-1 CdSのShallow Trap
- 電流飽和領域における空間電荷制限電流 : 半導体 : ダイオード,不安定
- Phononのdamping : 半導体 : ダイオード,不安定
- CdSにおけるphononのdecay : 半導体(ダイオード)
- 3-11 非晶質カルコゲナイド系撮像管サチコンの動作解析
- 16p-A-3 非晶質半導体の接合特性
- Se系化合物ヘテロ接合の光電特性 II : イオン結晶・光物性
- Se系化合物ヘテロ接合の光電特性 I : イオン結晶・光物性
- 12p-D-14 アモルファスシリコン膜の振動スペクトル
- 27a-SB-6 混相系アモルファスシリコン膜の振動スペクトル
- アモルファス半導体の微量不純物効果
- S-3 アモルファス撮像デバイスの将来展望
- 4p-H-10 コメント : 非晶質半導体接合について
- CdSの電気分解に伴うルミネセンス : 光物性