秋本 晃一 | 名古屋大学工学部
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概要
関連著者
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秋本 晃一
名古屋大学工学部
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秋本 晃一
名古屋大学・院工・量子工学
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秋本 晃一
名大院工
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榎本 貴志
豊田工業高等専門学校
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一宮 彪彦
名大工
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一宮 彪彦
名古屋大学大学院工学研究科
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秋本 晃一
名工大
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板垣 和夫
三菱化学(株)筑波工場
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秋本 晃一
名古屋大学大学院工学研究科量子工学専攻
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一宮 彪彦
名古屋大学
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一宮 彪彦
名古屋大学工学部
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吉田 泰則
名古屋大学工学研究科
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菊地 敏
三菱化学(株)筑波工場
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浪田 秀郎
CACs(株)筑波分析センター
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菊池 敏
三菱化学(株)筑波工場
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榎本 貴志
豊田工業高専
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後藤 実
宇部工業高等専門学校
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仙波 伸也
宇部工業高等専門学校
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谷川 明男
日本電気(株)マイクロエレ研
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後藤 実
宇部工業高等専門学校 機械工学科
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谷川 明男
Nec
著作論文
- Ag薄膜の摩擦配向現象と配向パターン実現の可能性(トライボロジー/一般)
- 逆スパッタ表面処理による絶縁膜-半導体界面近傍の格子歪(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- 逆スパッタ表面処理による絶縁膜-半導体界面近傍の格子歪(結晶成長評価およびデバイス(化合物, Si, SiGe, その他の電子材料))
- 逆スパッタ表面処理による絶縁膜-半導体界面近傍の格子歪(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- 23pZL-7 X線による半導体表面界面の構造研究
- X線で見る界面の原子配列
- 利用実験:X線波動場による薄膜成長制御
- 2. 吸収端近傍のX線を使って─(2)特定の元素に着目して─ 多波長異常分散法で半導体界面構造をみる