雨海 正純 | 日本テキサス・インスツルメンツ 筑波テクノロジーセ
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概要
関連著者
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雨海 正純
日本テキサス・インスツルメンツ 筑波テクノロジーセ
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雨海 正純
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社筑波テクノロジーセンターモデリング&特性研究グループ
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雨海 正純
日本テキサスインスツルメンツ(株)パッケージ開発部
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雨海 正純
日本テキサスインスツルメンツ株式会社筑波テクノロジーセンター
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雨海 正純
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 筑波テクノロジー・センター
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金 永培
九州大学大学院工学府
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金 永培
九州大学大学院工学部
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雨海 正純
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 筑波テクノロジーセンター モデリング&特性研究グループ
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田島 武
千住金属工業株式会社 開発・技術部ハンダテクニカルセンター
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野口 博司
九州大学大学院工学研究院
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高尾 健太郎
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 筑波テクノロジー・センター
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東 千加良
日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 筑波テクノロジー・センター
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野口 博司
九州大学大学院工学府
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大西 司
千住金属工業株式会社 開発・技術部ハンダテクニカルセンター
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田島 武
千住金属工業株式会社開発・技術部ハンダテクニカルセンター
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豊田 良孝
千住金属工業(株)テクニカルセンター
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金 永培
九大院
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豊田 良孝
千佳金属工業株式会社開発・技術部ハンダテクニカルセンター
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大西 司
千住金属工業 ハンダテクニカルセ
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野口 博司
九大
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田島 武
千佳金属工業株式会社開発・技術部ハンダテクニカルセンター
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野口 博司
九州大学
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野口 博司
九大工
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荒巻 徹
九州大学大学院工学府
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中尾 森男
日本テキサスインスツルメンツ株式会社パッケージ開発部
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荒巻 徹
日立製作所
著作論文
- Sn-Ag-X鉛フリーはんだの高信頼性化への検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- Sn-Ag-X鉛フリーはんだの高信頼性化への検討
- BGA-ICパッケージの高サイクル振動疲労強度特性(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
- BGA-ICパッケージの高サイクル振動疲労強度特性(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
- 752 周波数がはんだボールの高サイクル振動疲労特性に及ぼす影響の FEM 解析
- ソルダパッドめっき材のはんだき裂進展に及ぼす影響
- ソルダーパットめっき材がはんだき裂進展に及ぼす影響
- ソルダーパットめっき材がはんだき裂進展に及ぼす影響
- 銅コアボールを用いた Ball Grid Array パッケージ
- チップスケールパッケージ材料の特性化
- ポリイミド表面化学および性状が界面破壊靱性値に及ぼす影響
- Sn-Ag-X鉛フリーはんだの高信頼性化への検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 高信頼性鉛フリーはんだの検討(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
- 高信頼性鉛フリーはんだの検討(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
- 高信頼性鉛フリーはんだの検討
- 半導体パッケージの界面接着不良
- CSP/BGA 実装のシミュレーションによる信頼性(BGA・CSP・KGD の動向)
- チップ・スケール・パッケージ界面の機械・化学的性質
- チップ・スケール・パッケージ界面の機械・化学的性質
- 携帯機器の落下衝撃によるはんだ接合の信頼性(高性能電子機器を支える次世代高密度実装技術と実装材料技術論文)
- ICパッケージにおける電気信号の伝送ガイドライン(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- ICパッケージにおける電気信号の伝送ガイドライン(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- ICパッケージにおける電気信号の伝送ガイドライン
- 熱劣化したBGA-ICパッケージはんだ接合部の衝撃強度の評価
- ICパッケージにおける電気信号の伝送ガイドライン (MEMS 2006 第16回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集)
- BGA-ICパッケージはんだ接合部の振動疲労特性 : 第1報,横振動における,鉛フリーはんだと鉛はんだの比較
- Sn-Ag-Cu系の鉛フリーBGAパッケージの静的強度評価(技術OS3-2 微小材料強度評価,技術OS3 電子・情報機器と材料力学)
- 841 周波数が鉛フーリはんだの BGA 疲労寿命に及ぼす影響
- 709 BGA-ICパッケージの疲労信頼性(G.S. 材料力学 : 疲労)