赤堀 浩史 | 東北大学大学院工学研究科電子工学専攻
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概要
関連著者
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寺本 章伸
東北大学未来科学技術共同研究センター
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大見 忠弘
東北大学未来科学技術共同研究センター
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二井 啓一
東北大学未来科学技術共同研究センター
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赤堀 浩史
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター半導体プロセス開発第三部
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赤堀 浩史
東北大学大学院工学研究科電子工学専攻
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寺本 章伸
東北大学未来科学共同センター
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大見 忠弘
東北大学未来科学共同センター
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平山 昌樹
東北大学未来科学技術共同研究センター
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諏訪 智之
東北大学未来科学技術共同研究センター
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濱田 龍文
東北大学大学院工学研究科
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諏訪 智之
東北大学大学院工学研究科
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塚本 和巳
東北大学未来科学技術共同研究センター
著作論文
- 界面平坦化を行ったシリコン(110)面上に形成されたトランジスタの電気的特性(2004先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア太平洋会議)
- 界面平坦化を行ったシリコン(110)面上に形成されたトランジスタの電気的特性(2004先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア太平洋会議)
- 界面平坦化を行ったシリコン(110)面上トランジスタの電気的特性
- 界面平坦化を行ったシリコン(110)面上トランジスタの電気的特性(プロセスクリーン化と新プロセス技術)
- シリコン(110)面の平坦化(プロセスクリーン化と新プロセス技術)
- シリコン表面の自然酸化抑制(プロセスクリーン化と新プロセス技術)