Lee Seaung-Suk | Mobile & FLASH Division, Hynix Semiconductor Inc.

スポンサーリンク

概要

関連著者

もっと見る

著作論文

Temperature effects on silicon-oxide-nitride-oxide-silicon transistors under channel hot electron injection operation (Electron devices: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
Temperature effects on silicon-oxide-nitride-oxide-silicon transistors under channel hot electron injection operation (Silicon devices and materials: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
Ramping Amplitude Multi-Frequency Charge Pumping Technique for Silicon-Oxide-Nirtride-Oxide-Silicon Flash EEPROM Cell Transistors
Extraction of Energy Distribution of Nitride Traps Using Charge Pumping Method in Silicon–Oxide–Nitride–Oxide–Silicon Flash Memory
New Charge Pumping Method for Characterization of Charge Trapping Layer in Oxide–Nitride–Oxide Structure

スポンサーリンク