Joo Han-Soo | Dept. of Electronic Engineering, Chungnam National University

スポンサーリンク

概要

関連著者

もっと見る

著作論文

Temperature effects on silicon-oxide-nitride-oxide-silicon transistors under channel hot electron injection operation (Electron devices: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
Temperature effects on silicon-oxide-nitride-oxide-silicon transistors under channel hot electron injection operation (Silicon devices and materials: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
Ramping Amplitude Multi-Frequency Charge Pumping Technique for Silicon-Oxide-Nirtride-Oxide-Silicon Flash EEPROM Cell Transistors
Theoretical Investigation of Neutral Point Defects in CoSi_2

スポンサーリンク