中野 真治 | 松下電子工業(株)半導体社品質技術部

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概要

• 同名の論文著者
• 松下電子工業(株)半導体社品質技術部の論文著者

関連著者

• 中野 真治

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

• 中野 真治

  松下電器産業(株)半導体社事業本部品質技術グループ

• 藤本 昌宏

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

• 中島 唯之

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

• 和田 哲明

  松下電子工業(株)半導体事業本部品質技術部

• 和田 哲明

  松下電器産業

• 和田 哲明

  松下電子工業(株)

• 野中 聡

  旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座

• 林 達哉

  旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座

• 松尾 一郎

  松下電子工業(株)プロセス開発センター

• 堂前 伸一

  プロセス開発センター 先行技術部

• 安田 智

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

• 札谷 正美

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

• 登川 一郎

  松下電子工業

• 加藤 剛

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

• 登川 一郎

  松下電器産業(株) 半導体社 品質技術グループ

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著作論文

• p^+ポリシリコンゲートpMOSFETのHC劣化検討
• +BTストレスによるp^+ポリシリコンゲートpMOSFETの特性変動検討
• ストレスマイグレーションによるスタックドWバイア部のAlボイド成長
• エミッタ・ベース逆バイアスストレスでのhFE劣化におけるコレクタ状態の影響
• フラッシュメモリの書込/消去方法の信頼性への影響
• Via付Al配線のEM耐性
• 高加速エレクトロマイグレーション評価の課題

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