藤本 昌宏 | 松下電子工業(株)半導体社品質技術部

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関連著者

• 藤本 昌宏

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

• 中野 真治

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

• 中野 真治

  松下電器産業(株)半導体社事業本部品質技術グループ

• 中島 唯之

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

• 中野 真冶

  松下電子工業(株)半導体事業本部品質技術部

• 和田 哲明

  松下電子工業(株)半導体事業本部品質技術部

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  松下電器産業(株) 半導体社 品質技術グループ

• 和田 哲明

  松下電子工業(株)

• 野中 聡

  旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座

• 林 達哉

  旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座

• 松尾 一郎

  松下電子工業(株)プロセス開発センター

• 堂前 伸一

  プロセス開発センター 先行技術部

• 藤木 昌宏

  松下電子工業(株)半導体事業本部品質技術部

• 鈴木 岳

  松下電子工業(株)半導体事業本部品質技術部

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著作論文

• p^+ポリシリコンゲートpMOSFETのHC劣化検討
• +BTストレスによるp^+ポリシリコンゲートpMOSFETの特性変動検討
• ストレスマイグレーションによるスタックドWバイア部のAlボイド成長
• 定電圧TDDB試験と定電流TDDB試験との相関検討
• リングオシレータを用いたACホットキャリア寿命の検討

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