登川 一郎 | 松下電器産業(株) 半導体社 品質技術グループ

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概要

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• 松下電器産業(株) 半導体社 品質技術グループの論文著者

関連著者

• 登川 一郎

  松下電器産業(株) 半導体社 品質技術グループ

• 和田 哲明

  松下電子工業(株)半導体事業本部品質技術部

• 登川 一郎

  松下電子工業

• 和田 哲明

  松下電器産業(株) 半導体社 品質技術グループ

• 和田 哲明

  松下電器産業

• 和田 哲明

  松下電子工業(株)

• 中野 真治

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

• 中野 真治

  松下電器産業(株)半導体社事業本部品質技術グループ

• 加藤 剛

  松下電子工業(株)半導体社品質技術部

著作論文

• 窒化膜容量素子のTDDB評価
• フラッシュメモリの書込/消去方法の信頼性への影響
• ドレイン高耐圧nMOSFETのホットキャリア劣化
• ドレイン高耐圧nMOSFETのホットキャリア劣化(電子部品の信頼性,信頼性一般)
• 高耐圧パワーDMOSFETの信頼性
• PN接合逆バイアス電流に起因した劣化現象

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