佐藤 久子 | 日立製作所デバイス開発センタ
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概要
関連著者
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佐藤 久子
日立製作所デバイス開発センタ
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増田 弘生
(株)日立製作所デバイス開発センタ
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常野 克己
日立製作所デバイス開発センタ
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増田 弘生
日立製作所デバイス開発センタ
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森 和孝
日立製作所デバイス開発センタ
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市川 仁子
日立製作所デバイス開発センタ
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青山 仁子
日立製作所デバイス開発センタ
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中村 高秀
日立製作所デバイス開発センタ
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国友 久彰
日立超LSIシステムズ
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和田 真一郎
(株)日立製作所 マイクロデバイス事業部
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和田 慎一郎
日立製作所 デバイス開発センタ
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森 和孝
(株)日立製作所 デバイス開発センタ
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福田 智之
日立製作所デバイス開発センタ
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本澤 純
日立製作所デバイス開発センタ
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和田 真一郎
日立製作所デバイス開発センタ
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常野 克己
(株)日立製作所半導体グループ
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常野 克巳
日立製作所 デバイス開発センタ
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佐藤 久子
(株)日立制作所
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和田 真一郎
日立製作所
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玉置 洋一
(株)日立製作所デバイス開発センタ
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松尾 仁司
日立製作所中央研究所
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玉置 洋一
日立製作所 デバイス開発センタ
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井原 茂男
日立製作所中央研究所
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丸山 貴志子
日立製作所
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鳥谷部 達
東洋大学工学大学院工学研究科情報システム専攻
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井原 茂男
(株)日立製作所中央研究所
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井瀬 潔
(株)日立製作所半導体グループ
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井瀬 潔
日立製作所半導体事業部
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鳥谷部 達
東洋大学工学部情報工学科
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丸山 貴志子
株式会社日立製作所中央研究所
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国友 久彰
日立マイコンシステム
著作論文
- VLSI配線容量のシミュレーションと評価
- TCADを用いた統計的手法による0.12μmCMOSデバイスの統計
- TCADを用いた統計的手法による0.12μmCMOSデバイスの設計
- プロセス/デバイスシミュレータによる高速バイポーラトランジスタの性能予測
- 多層ピッチ配線特性のモデル化と実験比較
- 実験計画法を用いたMOSFETモビリティモデル最適化手法の検討
- 実験計画法を用いたMOSFETモビリティモデル最適化手法の検討
- 実験計画法を用いたMOSFETモビリティモデル最適化手法の検討
- 実験計画法を用いたMOSFETモビリティモデル最適化手法の検討
- ASICおよびMPU開発のTCAD/DA
- ASICおよびMPU開発のTCAD/DA
- TCADキャリブレーションの問題と統計手法の利用技術
- 感度解析によるCMOSプロセス設計
- TCADによる高集積0.4μmCMOS回路モデルパラメータ生成