和田 恭雄 | 日立 基礎研
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概要
関連著者
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和田 恭雄
日立 基礎研
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和田 恭雄
(株)日立製作所基礎研究所
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平家 誠嗣
株式会社日立製作所基礎研究所
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橋詰 富博
東北大WPI-AIMR
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梶山 博司
日立 基礎研
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梶山 博司
日立
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梶山 博司
(株)日立製作所基礎研究所
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和田 恭雄
日立製作所基礎研究所
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平家 誠嗣
日立基礎研
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橋詰 富博
日立基礎研
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平家 誠嗣
日立製作所基礎研究所
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橋詰 富博
日立製作所基礎研究所
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渡邊 聡
東大工
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和田 恭雄
日立基礎研 Crest
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梶山 博司
日立製作所基礎研究所
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橋詰 富博
株式会社日立製作所基礎研究所
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石橋 雅義
株式会社日立製作所基礎研究所
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一杉 太郎
東北大WPI-AIMR
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長谷川 哲也
神奈川科学技術アカデミー
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石橋 雅義
日立製作所 基礎研究所
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長谷川 哲也
東工大応セラ研
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梶山 博司
株式会社日立製作所日立研究所
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和田 恭雄
株式会社日立製作所基礎研究所
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山田 啓文
京都大学大学院工学研究科
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松重 和美
京都大学大学院工学研究科
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山田 啓文
京都大学工学研究科電子工学専攻
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長谷川 哲也
東工大, 科技団
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山田 啓文
Department Of Electronic Science And Engineering Kyoto University
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一杉 太郎
東大工・超伝導
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橋詰 富博
日立・基礎研
-
平家 誠嗣
日立・基礎研
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梶山 博司
日立・基礎研
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和田 恭雄
日立・基礎研
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渡邊 聡
東大工・材料
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北沢 宏一
東大工・超伝導
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松重 和美
京都大学国際融合創造センター
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和田 恭雄
(株) 日立製作所基礎研究所
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松重 和美
京都大学工学研究科電子物性工学専攻
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渡邉 聡
東大院工学系
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北沢 宏一
東大院工:東大院新領域:科技団
著作論文
- 走査プローブ顕微鏡を用いた10ナノメータレベルリソグラフィー
- 30a-YF-12 Si(100)-2X1-H上に作製したダングリングボンド構造のSTM/STS測定
- 分子ナノエレクトロニクスの展望
- 分子エレクトロニクスの展望
- 夢その2-より小さく- 原子・分子操作による新素子創製
- 微小STMによる分子機能素子特性計測への試み
- 原子細線を自由にパターニング -「原子エレクトロニクス」の実現に向けて-
- 原子サイズデバイスの提案
- 単電子トンネリングと分子電子デバイスへの応用
- 単電子トンネリングと分子デバイスへの応用の可能性
- 水素終端シリコン表面における初期酸素吸着の原子レベル観察
- 水素終端シリコン表面における初期酸素吸着の原子レベル観察
- 29p-R-8 ナノ構造を用いた表面準位電気伝導度の直接測定
- 1p-YA-4 原子プロキシミティー場の実現に向けて