根本 規生 | 宇宙開発事業団
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概要
関連著者
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根本 規生
宇宙開発事業団
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松田 純夫
宇宙開発事業団
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松田 純夫
宇宙航空研究開発機構総合技術研究本部
-
松崎 一浩
宇宙開発事業団
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松崎 一浩
宇宙開発事業団 電子・情報系技術研究部
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阿久津 亮夫
宇宙開発事業団
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新藤 浩之
宇宙航空研究開発機構
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新藤 浩之
宇宙開発事業団
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梨山 勇
日本原子力研究所高崎研究所
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平尾 敏雄
日本原子力研究開発機構:日本大学
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平尾 敏雄
日本原子力研究所 高崎研究所
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平尾 敏雄
原研
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小丸 真喜雄
三菱電機株式会社 光・マイクロ波デバイス開発研究所
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矢嶋 孝太郎
三菱電機(株)半導体基盤技術統括部
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佐々木 肇
三菱電機(株)半導体基盤技術統括部
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久保山 智司
宇宙開発事業団
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柏 卓夫
三菱電機株式会社高周波光素子事業統括部
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中村 悦造
宇宙開発事業団
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久保山 智司
宇宙航空研究開発機構
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伊藤 久義
日本原子力研究所高崎研究所
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伊藤 久義
日本原子力研究所 高崎研究所 材料開発部
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平尾 敏雄
日本原子力研究開発機構
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広瀬 孝幸
菱栄テクニカ
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加藤 隆幸
三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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加藤 隆幸
三菱電機株式会社
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小丸 真喜雄
三菱電機株式会社高周波光デバイス製作所
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馬場 信次
菱栄テクニカ(株)
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内藤 一郎
高信頼性部品株式会社
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松田 純夫
宇宙開発事業団技術研究部
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中村 悦造
宇宙開発事業団電子部品技術研究室
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大島 武
日本原子力研究開発機構
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高木 直
三菱電機株式会社
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小丸 真喜雄
三菱電機(株) 光・マイクロ波デバイス開発研究所
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加藤 隆幸
三菱電機(株)光・マイクロ波デバイス開発研究所
-
高木 直
三菱電機(株)光・マイクロ波デバイス開発研究所
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柏 卓夫
三菱電機(株)光・マイクロ波デバイス開発研究所
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水口 澄
三菱電機(株)半導体基盤技術統括部
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杉本 憲治
宇宙開発事業団
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大島 武
原子力研究開発機構
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大西 一功
日本大学理工学部電子情報工学科
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塩野 登
日本電子部品信頼性センター
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内藤 一郎
宇宙開発事業団衛星システム本部衛星ミッション推進部
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松本 晴久
宇宙航空研究開発機構
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杉本 憲治
高信頼性部品(株)
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修行 新一
宇宙開発事業団
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大浦 昭夫
高信頼性部品(株)
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平尾 敏雄
日本電子力研究所
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穴山 汎
日本電子部品信頼センター
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梨山 勇
日本電子力研究所
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松本 晴久
宇宙開発事業団技術研究本部専門グループ(宇宙環境計測)
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五家 建夫
宇宙開発事業団技術研究本部専門グループ(宇宙環境計測)
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五家 建夫
宇宙開発事業団
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松本 暁洋
宇宙開発事業団 電子・情報系技術研究部
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小丸 真喜雄
光・マイクロ波デバイス開発研究所
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加藤 隆幸
光・マイクロ波デバイス開発研究所
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柏 卓夫
光・マイクロ波デバイス開発研究所
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大浦 昭夫
宇宙開発事業団
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Pesce Anastasia
宇宙開発事業団
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青木 司郎
宇宙開発事業団
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羽田 尚志
日本電気株式会社
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松本 暁洋
宇宙開発事業団技術研究本部電子・情報系技術研究部
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根本 規生
宇宙開発事業団技術研究本部
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五家 建夫
(独)宇宙航空研究開発機構研究開発本部
著作論文
- ミリ波帯低雑音PHEMTの耐γ線特性
- 民生用DRAMに対する低ドーズ率ガンマ線照射試験
- SOI構造における重イオン誘起電荷の測定
- Pseudomorphic HEMT及びDual Gate GaAs MES-FET MMICのγ線照射効果
- 半導体素子の宇宙適用性評価を目的としたI_測定法の検討
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- ADEOS衛星による宇宙用部品のシングルイベント計測結果(第10回信頼性シンポジウムREAJ)
- 民生部品のシングルイベント耐性に関する評価
- 民生部品の耐放射線に関する評価
- 民生用大容量メモリのシングルイベントアップセット耐性評価
- 宇宙用100KゲートCMOSゲートアレイのTDDB寿命評価
- 宇宙用64KBIT SRAM に対する BEAM BLANKING SEM と 重イオンによる SEU 試験の比較