砂村 潤 | 日本電気(株)基礎研究所

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概要

• 同名の論文著者
• 日本電気(株)基礎研究所の論文著者

関連著者

• 砂村 潤

  日本電気(株)基礎研究所

• 砂村 潤

  Nec基礎・環境研究所:科学技術振興機構

• 砂村 潤

  日本電気株式会社

• 砂村 潤

  ルネサスエレクトロニクス先行研究統括部

• 川浦 久雄

  日本電気(株)ビジネスイノベーションセンター

• 川浦 久雄

  日本電気(株)基礎研究所

• 五十嵐 信行

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 藤枝 信次

  日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所

• 藤枝 信次

  「応用物理」編集委員会

• 藤枝 信次

  Ecシリコノシステム研究所

• 藤枝 信次

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 藤枝 信次

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 五十嵐 多恵子

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 森岡 あゆ香

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 小辻 節

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 忍田 真希子

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 渡辺 啓仁

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 忍田 真希子

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 渡辺 啓仁

  日本電気株式会社

• 森岡 あゆ香

  NECグリーンイノベーション研究所

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著作論文

• SET多値メモリの高温動作化に向けたゲート-アイランド間結合容量の制御
• 不純物トラップメモリによる電荷の面内再分配抑制と高温保持力向上(新メモリ技術とシステムLSI)
• SET多値メモリの高温動作化に向けたゲート-アイランド間結合容量の制御

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