2波長ワンショット干渉計測 (特集 優れた画像処理研究に触れる--ViEW2007より)
スポンサーリンク
概要
著者
-
小川 英光
東レエンジニアリング(株)エレクトロニクス事業本部開発センター
-
北川 克一
東レエンジニアリング(株)エレクトロニクス事業本部開発センター
-
鈴木 一嘉
東レエンジニアリング(株)
-
北川 克一
東レエンジニアリング
-
北川 克一
東レエンジニアリング(株)
関連論文
- 単色光干渉法による透明膜に覆われた物体の膜厚と表面形状の同時測定
- 2波長ワンショット干渉計測(ViEW推薦論文)
- 透明膜で覆われた物体のワンショット干渉計測法
- 表面形状精密測定のための2波長ワンショット干渉法
- 白色光干渉法による透明膜に覆われた物体の膜厚と表面形状の同時測定
- Active Learning for Maximal Generalization Capability (Applications of the theory of reproducing kernels)
- 二値回帰問題のための新しいカーネルの提案
- D-11-97 劣化した印刷画像の画質改善
- D-2-6 訓練入力に雑音が含まれる場合の汎化誤差の推定
- 2波長ワンショット干渉計測
- 2波長ワンショット干渉計測 (特集 優れた画像処理研究に触れる--ViEW2007より)
- 標本化定理と染谷 勲
- AP-6-1 標本化と量子化(AP-6.信号・画像の離散化、特に量子化法についての討論-OK量子化理論とその展望-,パネル討論,ソサイエティ企画)
- アインシュタインの心
- 関数解析的学習理論 (函数解析学と数理情報の接点)
- D-2-2 モデル選択基準Corrected Subspace Information Criterionの理論的性能評価
- FA 信号処理に一般標本化定理を応用した光干渉式高速表面形状測定装置
- 信号処理に帯域通過型標本化定理を応用した光干渉式高速表面形状測定装置
- Subspace Information Criterionによる画像復元フィルタのパラメータ最適化
- 標本点とモデルの同時最適化
- NLP2000-32 / NC2000-26 標本点とモデルの同時最適化
- 画像基礎アルゴリズムの新展開(実世界における画像技術の応用)
- 表面形状と膜厚分布計測の最近の話題
- 白色干渉による微細3D計測とその応用
- 帯域通過型標本化定理を用いた白色光干渉による表面凹凸形状の高速測定
- 単一断線故障を修復可能な最適汎化ニューラルネットワーク
- 記憶学習の射影学習族に対する適応可能性
- 射影学習族
- D-2-27 単一断線故障が生じたニューラルネットワークの最適汎化能力の復元
- D-2-25 射影学習族と最小分散型射影学習
- 射影学習族
- AP-6-4 標本化定理の産業応用 : 光干渉計測における新しい信号処理アルゴリズム(AP-6.信号・画像の離散化、特に量子化法についての討論-OK量子化理論とその展望-,パネル討論,ソサイエティ企画)
- 半導体、液晶プロセスにおける検査技術の動向
- 白色干渉法による高速表面形状測定装置 (特集:外観検査技術)
- 東レエンジニアリング(株)の膜形状測定装置SP-500F--光干渉法による表面形状と膜厚分布の同時計測 (特集:最近の非接触三次元計測)
- 光干渉法による表面形状測定装置「SP-500」と透明膜計測への応用 (特集:エレクトロニクスとコンバーティング)
- 透明膜で覆われた物体のワンショット干渉計測法
- 基調講演 超精密3次元形状計測の最新動向--白色干渉における革新的アルゴリズムの開発とその応用 (特集2 ViEW2006 ビジョン技術の実利用ワークショップ)
- バイアスの推定とモデル選択
- D-2-24 最良線形不偏推定の拡張としての射影学習
- 射影学習による手書き数字認識
- 最適汎化のための逐次型能動学習
- バイアスを考慮した逐次型能動学習
- 最適汎化のための射影学習族の追加学習
- D-2-26 三角多項式ニューラルネットワークの能動学習
- 射影汎化ニューラルネットワークの追加学習
- バイアスを考慮した逐次型能動学習
- 最適汎化のための射影学習族の追加学習
- 三角多項式モデルを用いた訓練データの最適設計
- 雑音抑制のための能動学習
- 雑音抑制のための能動学習
- 半導体・液晶プロセスにおける光干渉計測の応用
- 光干渉法による三次元計測
- 光干渉法による膜形状測定装置「SP-500F」とその応用
- 第9回小田原賞受賞 白色光干渉法による透明膜の3次元膜形状計測 (特集2 優れた画像処理研究に触れる)
- 白色光干渉法による透明膜の形状・膜厚同時測定 (第20回センシングフォーラム 資料--センシング技術の新たな展開と融合) -- (セッション1B2 位置・長さ・形状計測(1))
- 表面形状測定装置SP-500とその応用--光干渉法で世界最高速の測定速度を実現 (特集 非接触3次元計測)
- 高速非接触表面形状測定装置SP-500--帯域通過型標本化定理を応用して世界最高速の測定速度を実現 (特集 フラットパネルディスプレイ技術動向)
- 東レエンジニアリングの膜形状測定装置SP-500F (製品特集:最近の非接触三次元計測)
- 光干渉法による微小段差計測の現状と展望 (特集 段差計測)
- 適応型射影追加学習
- 画像処理技術の開発と事業化 : 目視検査自動化の30年を振り返って
- 3波長ワンショット干渉計測によるインクジェット方式カラーフィルタの膜厚測定
- 多波長ワンショット干渉計測技術の開発と実用化
- パターン認識のための学習 : 基礎と応用 : 論文小特集の発行にあたって
- 擬似双直交性理論とその応用 (再生核の理論とその応用)
- 干渉色画像解析による透明膜の広視野膜厚分布測定装置の開発