接触部品を支えるコンタクトテクノロジ-の最近動向
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 第24回電気接点に関する国際会議ICEC2008(フランス)概要報告(トライボロジ・一般)
- 技術教育における技術概念及び技術の方法を中心とした教材の開発と試行
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告(その2)
- The 22^ International Conference on Electrical Contacts(第22回電気接点国際会議)Together with The 50^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts : 概容報告(その1)
- 21st International Conference on Electrical Contacts(第21回接点国際会議)概要報告(フェロー記念講演・一般)
- 2000年題46回IEEE電気接点ホルム国際会議報告
- 第52回電気接点に関するIEEEホルム会議の概要報告
- Ag-Pd-Mg合金接点の耐シリコーン汚染性のメカニズムについて
- The 51^ IEEE Holm Conference on Electrical Contacts概要報告
- 地震防災用リレーの信頼性に関する研究
- 技術科教育におけるパソコンの実践的利用
- 銅接触面に生成する酸化皮膜の成長則と接触信頼性に対する加熱酸化の加速率 (機構デバイスの新しい展開とその基礎論文小特集)
- Cu接触面に対する酸化皮膜の成長則と接触信頼性
- IC-REPEC2004概要報告
- シリコーン蒸気汚染による接触信頼性の低下を抑制する因子と加速する因子について(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- シリコーン蒸気汚染による接触信頼性の低下を抑制する因子と加速する因子について(機構デバイスの信頼性,信頼性一般)
- 電気接点表面と接触のメカニズム
- 接触境界部に介在する汚染皮膜の電気的破壊による低接触抵抗の回復とそのメカニズム
- 機構デバイスに及ぼすシリコーン汚染の影響とその対策
- SC-5-3 STM(走査トンネル電子顕微鏡)による接触面のトポグラフ像と仕事関数像
- SC-4-5 シリコーン蒸気環境で優れた接触特性を示すAg-Pd-Mg合金について
- 新しく開発したAg-Pd-Mg合金における低接触抵抗のメカニズム
- 新しく開発したAg-Pd-Mg合金における低接触抵抗のメカニズム
- 電気接触現象(「ベーシックサイエンスシリーズ」第 11 回)
- シリコーン蒸気中で開閉する接触面で生ずる特異な接触痕跡パターンについて
- 接触不良に対するシリコーンの分解と放電条件
- シリコーン汚染とシリコーン蒸気の分解過程
- シリコーン蒸気中におけるマイクロリレーの接触不良に及ぼす開閉頻度の影響
- 走査トンネル顕微鏡(STM)による汚染接触部のトンネル導電の検討
- 導電材料として用いられる純度の高い金属表面の走査トンネル顕微鏡像について
- Ag-Pd-X(X:Mg,Cr)合金の特異な接触抵抗特性について
- Ag-Pd系合金の表面に生ずる酸化皮膜の性質とその接触抵抗特性について(Ag-Pd-Cr合金を中心として)
- Ag-Pd系合金の表面に生ずる酸化皮膜の成長とその接触抵抗におよぼす影響 : Ag-Pd-Mg合金を中心として
- 電気接触部の信頼性と表面汚染
- SMTへの対応と最近の機構部品--多様化、複合化への要求とアッセンブリへの対応 (90年版電子部品・計測器ガイドブック) -- (SMTへの対応と最近の機構部品(特集))
- Cuの接触表面に生ずる酸化皮膜の成長とその接触抵抗特性に及ぼす影響--エリプソメトリを中心にした研究 (接触信頼性と接触現象小特集)
- 接触部品を支えるコンタクトテクノロジ-の最近動向
- どう進む,高密度実装化と機構部品の対応--面実装を中心として (87年版電子部品・計測器ガイドブック) -- (電子部品・高密度実装化とその先端技術)
- 電子部品分野に見るハイテクノロジ-とその集合 (デ-タで語る電子部品の先端分野とその動向)
- 半導体の界面電気現象とその制御 (セラミックスの表面,界面を探る)
- OA機器における機構部品の役割とこれからの課題 (85年版電子部品・計測器・情報処理周辺機器ガイドブック) -- (OA機器にみる最近の機構部品とその先端技術)
- 新技術シリ-ズ--光コネクタ技術
- チップ部品とその周辺技術の革新 (チップ部品の最先端技術とその周辺)
- 電気接触部の信頼性と表面汚染