統計的設計のための2つの指標の評価(低消費電力回路,システムオンシリコンを支える設計技術)
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概要
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遅延を統計的に扱う統計的設計を実用化するには,統計的静的遅延解析のような解析手法だけでなく,タイミング故障の検出手法や回路の最適化手法にも統計的な技法を導入する必要がある.本文では,パス遅延がクリティカル遅延になる確率および素子遅延とクリティカル遅延との相関係数という2つの指標に着目し,これらの指標を計算するアルゴリズムを提案すると共に,モンテカルロ法による結果との比較を報告する.前者の指標はタイミング故障の検査手法を,後者の指標は回路の遅延最小化手法を検討する上で有用であり,どの程度の精度で計算可能かを調べておく必要がある.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-03-04
著者
-
築山 修治
中央大学大学院理工学研究科
-
築山 修治
中央大学理工学部電気電子情報通信工学科
-
高橋 真吾
中央大学大学院理工学研究科
-
吉田 裕樹
中央大学大学院理工学研究科
-
築山 修治
中央大学理工学研究科
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