正規分布を用いた統計的静的遅延解析手法の性能評価(システムLSIの応用と要素技術,専用プロセッサ,プロセッサ,DSP,画像処理技術,及び一般)
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概要
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微細加工技術の進歩に伴う製造ばらつきの増大により,最悪を想定した従来の設計手法では,過剰マージンが重畳され,所望の回路が設計できないという事態が生じている.しかし,チップ内ばらつきも増大しているため,その影響を正確に見積もることができれば,過剰マージンを排除し,より低消費電力の回路を高歩留まりで製造できる可能性もある.このような目的で,各素子遅延が確率分布で与えられたとき,組合せ回路全体の遅延解析を行う統計的静的遅延解析手法が提案され,注目を集めている.この手法では,素子遅延およびパス遅延の分布の表現が,解析精度と解析時間に影響するため,重要となる.本文では,遅延を正規分布の和で表現する統計的静的遅延解析手法の性能を,相関および分布形状の影響の観点から,モンテカルロシミュレーションとの比較によって調べた結果について報告する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-10-20
著者
-
築山 修治
中央大学大学院理工学研究科
-
築山 修治
中央大学理工学部電気電子情報通信工学科
-
高木 勇輔
中央大学大学院理工学研究科
-
霜山 渉
中央大学大学院理工学研究科
-
築山 修治
中央大学理工学研究科
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