18pXG-6 SrTiO_3薄膜におけるテラヘルツ領域誘電応答の広帯域検出と膜厚依存性(領域10,領域5合同 誘電体・誘電体の光制御,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2007-02-28
著者
-
下里 弘
阪大院基礎工
-
川山 巌
大阪大学レーザーエネルギー学研究センター
-
斗内 政吉
大阪大学レーザーエネルギー学研究センター
-
伊藤 正
阪大基礎工
-
伊藤 正
東北大・工
-
片山 郁文
横浜国立大学学際プロジェクト研究センター
-
芦田 昌明
大阪大学基礎工学研究科
-
芦田 昌明
阪大基礎工
-
川山 巌
阪大レーザー研
-
斗内 政吉
阪大レーザー研
-
斗内 政吉
大阪大
-
Tani M
Research Center For Superconductor Photonics Osaka University
-
Tonouchi Masayoshi
Powersource And Device Development Daihen Corporation
-
Itoh Tadashi
Department Of Applied Physics Tohoku Unviersity
-
片山 郁文
阪大基礎工
-
下里 弘
阪大基礎工
-
Itoh T
Kyosera Co.ltd.
-
Inaoka Takeshi
Department Of Electrical And Electronic Engineering The University Of Tokushima
-
伊藤 正
大阪大学 ナノサイエンスデザイン教育研究センター
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