30aXD-2 イオン照射ポリスチレン表面の機械的物性の測定(30aXD X線,粒子線(陽電子消滅),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2006-03-04
著者
-
兵頭 俊夫
東大院総合
-
長嶋 泰之
東理大理
-
中尾 愛子
理研 和光
-
岩木 正哉
理研
-
中尾 愛子
理研
-
藤井 善徳
東理大理
-
斎藤 文修
東大院総合文化
-
世取山 翼
東理大理
-
西山 逸雄
ダイプラ・ウィンテス
-
兵頭 俊夫
東大教養:東大院総合文化
-
世取山 翼
東京理科大学大学院理学研究科
-
西山 逸雄
ダイプラ・ウィンテス株式会社
-
兵頭 俊夫
高エネ研
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