24pXR-8 陽電子消滅寿命-運動量相関測定法を用いた原子空孔形成エネルギーの測定 II(24pXR 格子欠陥・ナノ構造,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2002-03-01

著者

• 後藤 彰

  理研

• 兵頭 俊夫

  東大院総合

• 鈴木 直毅

  JST-CREST

• 伊東 芳子

  理研

• 鈴木 直毅

  理研

• 真鍋 和義

  東大院総合文化

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