20aXC-4 チェレンコフトリガ法による陽電子寿命測定装置(X線・粒子線(陽電子消滅),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2007-02-28

著者

• 兵頭 俊夫

  東大院総合

• 斎藤 晴雄

  東大院総合

• 澁谷 憲悟

  放射線医学総合研究所 分子イメージング研究センター

• 澁谷 憲吾

  放医研

• 越水 正典

  東北大工

• 浅井 圭介

  東北大工

• 越水 正典

  東北大院工

• 浅井 圭介

  東北大院工

• 兵頭 俊夫

  東大教養:東大院総合文化

• 斎藤 晴雄

  東京大学大学院総合文化研究科

• 越水 正典

  Jst-crest:東北大院工

• 兵頭 俊夫

  高エネ研

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