28pXC-7 半導体低次元キャリア間相互作用の光学検出(28pXC 領域4,領域5合同シンポジウム:光学測定による半導体中のキャリア間相互作用研究の新展開,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))

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概要

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• 2006-03-04

著者

• 山口 真澄

  NTT物性基礎研

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