大容量フラッシュメモリの可能性を探る : 進行するフラッシュ革命のインパクト(メモリ技術(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリー))
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概要
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- 2008-04-10
著者
-
杉林 直彦
Nec
-
佐圓 真
日立製作所中央研究所
-
竹内 健
東大
-
神田 和重
東芝
-
篠崎 直冶
Spansion
-
梶谷 一彦
エルピーダ
-
柿原 俊男
HGST
-
小林 三千夫
Spansion
-
塚澤 寿夫
東芝
-
佐圓 真
日立
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