B-4-45 電磁界計測のための誘電体球による散乱電界強度の見積り(B-4.環境電磁工学,一般講演)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-08-29
著者
-
駒木根 隆士
秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所
-
井上 浩
秋田大学 大学院工学資源学研究科
-
駒木根 隆士
Akita Prefectural R&D Center
-
黒澤 孝裕
Akita Prefectural R&D Center
-
井上 浩
Akita University
関連論文
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(放送/一般)
- C-5-2 低速閉成時の接触電圧の電流依存性の測定(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- C-5-1 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの開離速度依存性(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
- B-4-36 コネクタに接触障害を有する伝送路からのコモンモード放射に関する一検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-31 ノイズ抑制シートを置いた筐体内PCBからの電磁放射の実験的検討(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- 外部磁界印加時の短時間アーク電流ノイズ計測(ショートノート(卒論・修論特集))
- B-4-47 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その4) : 内部ノイズ源の配置位置の電磁放射への影響(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- C-5-7 銀系接点低速開離時に発生するブリッジやアーク継続時間への磁界印加の影響の一検討(C-5.機構デバイス,一般講演)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その3)(EMC 一般)
- B-4-48 PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(その2)(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- CS-5-3 銀接点低速開離時に発生する短時間アークの持続電圧と継続時間の関係(CS-5.車載用機構デバイスの信頼性技術とその課題,シンポジウム)
- 磁気インピーダンス素子を用いたキャリア型磁界プローブの性能向上に関する検討(卒論・修論特集)
- 銀パラジウム接点の低速開離時電極内熱伝導に関する検討(卒論・修論特集)
- B-4-79 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズの電流依存性(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その2)(プローブ関連,EMC対策/一般)
- CS-5-3 電源電力一定時の開離時電圧と接点温度上昇の関係の実験的検討(CS-5.信号・電力伝送用デバイスの信頼性とその課題,シンポジウム)
- C-5-3 パラジウム接点の接点温度上昇と開離速度の関係(C-5.機構デバイス,一般講演)
- 食品画像提示による好み評価時の事象関連電位計測(BCI/BMIとその周辺)
- 高周波電圧制御発振器の開発とその応用(マイクロ波/一般)
- BI-1-5 電気接点アーク現象におけるEMC 問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- BI-1-6 伝送線路の接触不良によるEMC問題(BI-1.GHz帯におよぶ静電気・接点間放電による電磁妨害の脅威,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- C-1-21 FDTD法と回路解析手法の連携による複数基板間を跨ぐ信号線の数値解析(C-1. 電磁界理論,一般セッション)
- 事象関連電位による画像品質評価のための課題に関する実験的検討(その2)
- ERPを指標とした食品評価に関する実験的検討--寿司画像を用いた好み評価
- 事象関連電位による画像品質評価のための課題に関する実験的検討
- ノイズによるテレビ画像劣化の主観評価と事象関連電位P300の関連に関する一検討(ヒューマンインフォメーション)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その5) : ノイズ波形の開離回数依存性(放電EMC/一般)
- PCBをノイズ源とした筐体まどからの電磁放射の検討(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
- 圧電素子による横臥位体動検出の一検討
- A-10-13 倍音に着目した和音の音高認識に関する一検討(A-10. 応用音響,一般セッション)
- B-4-75 PCB上の接地導体板による近傍磁界変化の一検討(その2)(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- C-5-15 電極熱伝導率とホルダの切断時ブリッジへの影響に関する一検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討(放電・EMC/一般)
- B-4-29 誘電体円柱の回転による変調散乱手法を用いた局所交流電界の測定(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- D-7-11 瓶を例とした食品の外観評価時のERP計測(D-7.MEとバイオサイバネティックスB,一般セッション)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(その2)(一般講演)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(その2)(一般講演)
- BI-2-2 給電ケーブルで駆動されるPCBからの不要電磁波放射(BI-2.複合システムのノイズ問題を考える,ソサイエティ企画)
- C-5-4 コネクタ接触不良部の高周波等価回路に関する基礎的検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- 銀接点低速開離時アークのGHz帯までの電磁ノイズ計測(その5) : ノイズ波形の開離回数依存性(放電EMC/一般)
- 低速開離時接点の熱伝導のブリッジへの寄与に関する検討
- スロットを周期的に形成した電源面を持つストリップライン構造からの不要電磁放射(ショートノート(卒論・修論発表会))
- 銀系接点低速開離時の短時間アークに関する一検討
- 散乱波法による誘電率測定におけるキャリブレーション手法(マイクロ波,EMC,一般)
- 散乱波法による誘電率測定におけるキャリブレーション手法(マイクロ波,EMC,一般)
- C-5-6 電気接点開離時の開離速度とブリッジ切断長の関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- A-215 連続波信号を用いた液体の音速測定法 : その.2 音波伝搬路長-Sパラメータ特性による測定(A-11. 超音波,一般講演)
- 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) : 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係(放電・回路/一般)
- 変調散乱素子を用いた電界計測における散乱波振幅の校正法(マイクロ波,EMC,一般)
- 変調散乱素子を用いた電界計測における散乱波振幅の校正法(マイクロ波,EMC,一般)
- 広帯域周波数応用のためのリング発振器を用いたVCOに関する一検討
- 誘電体円柱を変調散乱素子として用いた放射電界の計測
- 情報機器筐体のEMC設計
- 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討(放電・EMC/一般)
- 近傍および中距離におけるEMC計測技術の開発
- C-5-2 低速開離AgPd接点のPd含有率とブリッジの関係に関する検討(C-5.機構デバイス,一般セッション)
- CS-7-3 アルミニウム接点の開離速度がブリッジ生成に及ぼす影響に関する一検討(CS-7.接触・接続技術の課題と今後の展望,シンポジウムセッション)
- C-5-7 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
- 低速度開離接点の熱解析(その3) : 電極の温度上昇に及ぼすホルダー構造の影響(その3)
- 第20回ICEC(接点国際会議)報告
- 水中にある小型発振回路の近傍磁界計測
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作 (その2)
- ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(放送/一般)
- ICチップ内配線の伝送及び電磁結合特性の一検討(マイクロ波/一般)
- ICチップ内配線の伝送及び電磁結合特性の一検討(マイクロ波/一般)
- 散乱波を用いた高周波複素誘電率の推定
- B-4-16 散乱波法における五次高周波を用いた誘電損失の推定(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-17 3アンテナ法による水中用受信アンテナ係数の測定(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-15 VHF帯における集中定数容量法による液体の誘電率測定(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- 超音波照射による媒質内温度上昇からの媒質定数の推定のための基礎検討
- B-4-37 多層構造による差動線路のクロストーク抑制の解析(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 構造による差動線路のクロストーク抑制の一検討(卒論・修論特集)
- B-4-53 水中用小型アンテナの放射特性測定に関する一検討(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 淡水内波源からの電波伝搬特性の基礎検討(観測・計測,観測・計測・探査における電波応用の最新技術論文)
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その3)(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(その3)(サブミリ波技術/マイクロ波電力応用/一般)
- 変調散乱素子として誘電体球を用いた放射電界の計測(電力/一般)
- 高感度・高分解能MI効果型高周波磁界検出素子の開発--EMC評価用ツールの実用化
- B-4-24 変調散乱手法による電界測定における散乱波振幅の校正(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-36 線状アンテナの近傍電界を利用した回転型変調散乱素子の空間分解能評価(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-65 異なる試料形状に対する散乱波法高周波誘電率推定値の補正(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-88 振動型変調散乱手法による線状アンテナの電界測定における空間分解能(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- 散乱波を用いた高周波誘電率の推定法(EMC対策/一般)
- B-4-53 変調散乱を用いた電界計測における雑音の低減(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-57 散乱波電界強度測定による高周波誘電率の簡易推定(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- B-4-16 機械振動を用いた誘電体変調散乱素子による局所交流電界の計測(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- 近傍および中距離におけるEMC 計測技術の開発
- 誘電体散乱球を用いた電磁界計測手法(マイクロ波/一般)
- B-4-28 誘電体変調散乱素子を用いた電界測定システムのGHz帯における性能評価(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- 近傍および中距離におけるEMC計測技術の開発
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(プローブ・アンテナ関連, マイクロ波EMC/一般)
- 高周波キャリア型磁界プローブによるGHz磁界検出(プローブ・アンテナ関連, マイクロ波EMC/一般)
- B-4-66 高周波キャリア型磁界プローブによる高周波磁界検出(B-4.環境電磁工学,通信1)
- 誘電体散乱球を用いた電磁界計測手法(マイクロ波/一般)
- B-4-45 電磁界計測のための誘電体球による散乱電界強度の見積り(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- B-4-75 誘電体による散乱を利用した局所交流電界の測定(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- プリント基板から放射される電磁界空間分布の一検討
- B-4-2 変調散乱手法による電界計測における干渉波を用いる変調法(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)
- 変調散乱素子として誘電体球を用いた放射電界の計測