変調散乱素子を用いた電界計測における散乱波振幅の校正法(マイクロ波,EMC,一般)
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概要
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変調散乱素子を用いた電界強度測定において,周囲環境からの反射等の影響によって変動する変調散乱波の振幅を校正する手法について検討した.誘電体円柱を機械回転させた変調散乱素子を用い,対数周期アンテナを模擬供試機器として散乱波振幅の校正値を取得し,また,この供試機器が発生する電界強度を推定した.測定された校正値には,床面反射や供試機器自体からの反射の影響が観測された.この校正値に基づいて電界測定時に観測される散乱波振幅を補正することで,周囲環境による散乱波の反射や回折等,多重伝搬による干渉の影響を低減でき,より高精度な電界測定が可能となった.
- 2010-10-14
著者
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駒木根 隆士
秋田県産業技術総合研究センター
-
黒澤 孝裕
秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所
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駒木根 隆士
秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所
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黒澤 孝裕
秋田県産業技術センター
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駒木根 隆士
秋田県産業技術センター
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