誘電体円柱を変調散乱素子として用いた放射電界の計測
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概要
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放射電磁界かつくる任意位置における電界強度の推定手法として,誘電体を変調散乱素子として用いた,ワイヤレスで低侵襲性を目指した計測システムを開発している.高周波電界中に置いた誘電体円柱からの散乱波強度は,電界方向と円柱の設置方向に応じて変化する.この現象を利用して,円柱形状の誘電体散乱体を用い,電磁波源がつくる電磁界中で機械回転させることにより散乱波を振幅変調する.遠方で受信した散乱波と直接波の合成信号から散乱体の回転に同期した復調系を用いて散乱波成分を抽出することにより,散乱体近傍の電界強度を推定できる.半波長ダイポールアンテナを電磁波放射源とし,上記手法により電磁波源からの距離50mm-1mの範囲で電界強度を推定した.また,市販電子機器周辺の放射電界の2次元像を得た.観測される信号強度に対する散乱体円柱の体積およびアスペクト比(円柱の高さ/直径)の影響を数値計算により検討した.同一直径で高さが異なる円柱に関して比較すると,アスペクト比が1より大きい領域では高さが大きくなるにつれて得られる信号強度は単調に増加する.一方アスペクト比が1より小さい領域では,信号強度が極大となる円柱高さが存在する.
- 2010-01-14
著者
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駒木根 隆士
秋田県産業技術総合研究センター
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黒澤 孝裕
秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所
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駒木根 隆士
秋田県産業技術総合研究センター高度技術研究所
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黒澤 孝裕
秋田県産業技術センター
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駒木根 隆士
秋田県産業技術センター
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