4RTD論理ゲートの試作と動作確認
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概要
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4個の共鳴トンネルダイオード(RTD)で構成された4RTD論理ゲートをInP系プロセスにより作製し、そのゲート特性を評価した。測定の結果、入力の変化によりRTDが設計通りスイッチ動作することを確認し、2入力ANDゲート、ORゲートの動作を実証した。さらに、ゲートの動作領域をシミュレーション結果と比較した結果、それらの動作が妥当であることが確認できた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-06-26
著者
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和保 孝夫
上智大学理工学部電気・電子工学科
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菅原 健太郎
上智大学理工学部
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山田 晃敬
上智大学理工学部
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奥山 大樹
上智大学理工学部
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ド タイ
デュースブルグ・エッセン大学固体電子工学科
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コレンコ ヴィクタ
デュースブルグ・エッセン大学固体電子工学科
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プロスト ウェルナ
デュースブルグ・エッセン大学固体電子工学科
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和保 孝夫
上智大学理工学部
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