アナログデジタル混載環境における基板雑音波形の測定と解析

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概要

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ミックストシグナルLSIにおける基板雑音の特性を明らかにするために、遷移制御雑音源と雑音検出回路を搭載したテストチップを0.4μmCMOS(P基板Nウェル)で設計・試作した。雑音源は動作ブロック数、遷移方向及びブロック間遅延を制御できる。100ps時間分解能の測定結果は、基板雑音が論理回路の遷移頻度を反映したピーク構造を有し、その時定数がスイッチング時間より数倍程度大きいことを示している。等価回路モデルを用いたシミュレーションにより、この過程が電源ライン・インピーダンスを通した論理回路の寄生容量と外部電源間の電荷移動に起因することを明らかにした。
社団法人映像情報メディア学会の論文
1999-09-20

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