マクロスコピック基板雑音モデルを用いたAD混載LSIの雑音検証法
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概要
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マクロスコピック基板雑音モデルを提案し、AD混載シミュレーション環境に実装した。基板雑音がAD混載LSI性能に及ぼす影響をチップレベルで検証できる。モデルは、基板雑音をデジタルプロックの遷移確率の連続関数として表し、AnalogHDLにより記述している。デジタル雑音源と結合した2次ΔΣAD変換器について、基板雑音による性能劣化を時間領域のシミュレーションで再現した。
- 1997-08-22
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