遅延自己ヘテロダイン法を用いた光スイーパによる光チョッパレスロックイン測定法
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概要
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光信号を振幅変調しつつ、その変調周波数を高帯域にわたて掃引できる光スイーパは、高周波信号源として光デバイスの特性評価等に応用できる。前回までに我々は、1個の半導体レーザダイオード(LD)のみを用いた遅延自己ヘテロダイン法による光スイーパを提案し、光素子の変調周波数特性の測定に応用した。今回、この光スイーパの駆動回路に簡単な改良を加えることによって、チョッパ等を用いることなく、容易にロックイン検出を行う方法を考案した。この方法を用いて、PINフォトダイオード(PIN-PD)の変調周波数特性の測定を行い、本光スイーパが、光デバイスの特性評価一般に有効であることを確認したので報告する。
- 1995-09-05
著者
-
後藤 俊夫
名古屋大学化学科
-
森 正和
愛知工業大学
-
後藤 了祐
名古屋大学
-
森 正和
名古屋大学
-
後藤 了祐
富士通
-
後藤 俊夫
名古屋大学 工学研究科量子工学専攻
-
宮内 彰
富士通
-
北島 克也
名古屋大学
-
宮内 彰
富士通株式会社
-
後藤 俊夫
名古屋大学
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