半導体レーザ内蔵フォトダイオードと外部のフォトダイオードによるスペックル速度計の比較
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概要
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自己混合型半導体レーザ(SM-LD)を移動物体の表面に垂直に照射すると、散乱光は物体の移動に伴うドップラー偏移を受けないので、表面の微小凹凸からの後方散乱光が干渉する結果生ずるスペックルパターンにのみ依存した光強度の時間変化が、SM-LD内または外部に設置したフォ卜ダイオード(PD)から検出される。この信号を利用した速度計測では、移動物体の速度とこの信号の周波数(擬似スペックル信号周波数)は直線関係にあることがわかっでいる。 しかし、この直線関係にはオフセットの値が確認され、その原因がレーザ共振器内への戻り光による自己混合効果のためであると推測される。 本論文では、光(アイソレータを使用し戻り光を完全に抑制した状態を実現し外部のフォトダイオードによって検出したスペックル信号と従来の内蔵PDの信号を用いた測定結果の比較を行った。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-08-13
著者
-
池田 弘明
静岡大学
-
角 正雄
千葉工業大学電子工学科
-
吉田 博文
静岡大学工学部電気電子工学科
-
池田 弘明
静岡大学工学部
-
篠原 茂信
静岡大学大学院理工学研究科
-
荒木 英行
静岡大学 電気・電子工学科
-
篠原 茂信
静岡大学 電気・電子工学科
-
池田 弘明
静岡大学 電気・電子工学科
-
吉田 博文
静岡大学 電気・電子工学科
-
角 正雄
千葉工大
-
角 正雄
千葉工業大学工学部電子工学科
-
荒木 英行
富士通ディジタル・テクノロジ株式会社
-
池田 弘明
静岡大
-
角 正雄
千葉工業大学
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