正弦波変調自己混合半導体レーザによる線幅測定
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概要
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半導体レーザ(LD)のスペクトル線幅は光干渉計測等の応用システムにおける基本特性の一つである。我々は先に遅延自己ヘテロダイン法に代え, ドップラー信号の自己混合法により線幅を測定した。今回はLDの正弦波変調により静止ターゲットを用いて自己混合法で線幅の測定を行った。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-06
著者
-
角 正雄
千葉工業大学電子工学科
-
孫 偉
千葉工業大学電子工学科
-
小竹 佑治
千葉工業大学電子工学科
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古寺 博
千葉工業大学電子工学科
-
角 正雄
千葉工大
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角 正雄
千葉工業大学工学部電子工学科
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古寺 博
千葉工業大学工学部
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古寺 博
電子工学科
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角 正雄
千葉工業大学
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