高精度微小時間数値化LSI
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概要
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インバータ遅延時間を分解能として複数のパルス位相差を高精度測定する微小時間数値化LSIを開発した。インバータ遅延時間は周囲温度、電源電圧の変動により変化するため水晶クロックと基準として自己の遅延時間を測定し、それに基づき被測定時間を数値化する。1.5μmCMOSサンプルにより分解能0.5ns、測定範囲2200nsを達成した。1回の測定で連続4パルスまで対応でき、測定可能な最小パルス間隔は55nsである。今回用いた基準クロックは2MHz,チップサイズは3.5mm×3.8mmである。本LSIは完全デジタル回路で構成され耐環境性に優れており、周囲温度-35〜140℃で安定に動作する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-09-21
著者
-
服部 正
(株)デンソー 基礎研究所
-
秋田 成行
日本電装基礎研究所
-
服部 正
日本電装基礎研究所
-
秋田 成行
株式会社デンソー
-
大塚 義則
株式会社デンソー
-
磯村 博文
(株)デンソーIC技術2部
-
我妻 秀治
(株)デンソーIC技術2部
-
渡辺 高元
日本電装基礎研究所
-
我妻 秀治
日本電装IC技術部
-
磯村 博文
日本電装IC技術部
-
大塚 義則
日本電装基礎研究所
-
渡辺 高元
(株)デンソー 基礎研究所
-
大塚 義則
デンソー 基礎研
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