ディジタル処理による高精度化と複数パルス測定を可能とした時間A-D変換LSI
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概要
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高速基準クロックを用いずにインバータの遅延時間を分解能として微小時間を数値化する"リングゲートディレイ方式"を先に報告したが,インバータ遅延時間は,周囲温度,電源電圧,製造時の条件等により変動するため高精度化に課題があった.そこで比較的低い周波数の水晶発振クロックを基準として常に自己の遅延時間を測定し,それに基づき被測定時間を高精度に数値化するLSIを実現した.本方式では,遅延時間を制御する必要がないため最短遅延時間を使用できる.また1入力端子にて1回の測定で連続4パルスまで測定可能である.測定パルス間隔が所定時間より小さい場合は1パルスに合成され誤動作を防止する.今回1.5μmCMOSプロセスを用いてサンプル試作し,電源電圧5Vで時間分解能0.5ns,測定範囲2200ns(12ビット)を達成した.測定可能な最小パルス間隔は55ns(25℃時)である.使用した基準クロックは2MHz,素子数15000,チップサイズは3.5mm×3.8mmである.本LSIは完全ディジタル回路で構成され耐環境性に優れ,周囲温度-35〜140℃で安定に動作する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1995-06-25
著者
-
服部 正
日本電装株式会社基礎研究所
-
服部 正
日本電装(株)基礎研究所
-
服部 正
(株)デンソー 基礎研究所
-
秋田 成行
株式会社デンソー
-
秋田 成行
日本電装株式会社基礎研究所
-
大塚 義則
株式会社デンソー
-
磯村 博文
(株)デンソーIC技術2部
-
我妻 秀治
(株)デンソーIC技術2部
-
渡辺 高元
日本電装株式会社基礎研究所
-
大塚 義則
日本電装株式会社基礎研究所
-
我妻 秀治
日本電装株式会社IC技術部
-
磯村 博文
日本電装株式会社IC技術部
-
渡辺 高元
(株)デンソー 基礎研究所
-
大塚 義則
デンソー 基礎研
-
服部 正
日本電装株式会社 基礎研究所
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