ウェーハスケール集積回路による遺伝的アルゴリズムのハードウェア化 : WSIのLDA(Leaving Defects Alone)アプローチ
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概要
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ウェーハスケール集積回路による遺伝的アルゴリズムのハードウェア化について論ずる.遺伝的アルゴリズムは多くの染色体が並列に協調しながら集団全体で解を探索するアルゴリズムであり,ニューラルネットワークや記憶ベース推論と同様に高いフォールトトレランスが期待できる.この特徴ウェーハスケール集積回路化の設計に生かすため,欠陥染色体がある場合の進化率を定義する.解析関数の極値探索と巡回セールスマン問題の遺伝的アルゴリズムによる解法中に欠陥染色体を導入し,フォールトトレランスの高さをシミュレーションで示すと共に,上記進化率との関係を評価する.この評価に基づき,染色体プロセッサとそれを用いたウェーハスケール集積回路を提案する.ここで,電源系の回路は遺伝的アルゴリズムのフォールトトレランスを利用できず,短絡欠陥が一つでも発生するとウェーハ全体が動作しなくなる.ウェーハ全体をフォールトトレランスにするには,電源系の欠陥救済が不可欠である.本論文では,筆者らが既に提案している電源系欠陥救済方式の詳細設計を示し,その有効性を実際のテストウェーハで評価する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-02-25
著者
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